退火温度对CH3NH3PbI3钙钛矿薄膜结构和电学特性的影响

doi:10.3969/j.issn.1001-9731.2016.07.037

功能材料 ›› 2016, Vol. 47 ›› Issue (7) : 7192-7196. DOI: 10.3969/j.issn.1001-9731.2016.07.037

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退火温度对CH₃NH₃PbI₃钙钛矿薄膜结构和电学特性的影响

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Effect of annealing temperature on structural and electrical properties of CH₃NH₃PbI₃ thin films

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2015-06-19	2016-07-30
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2016-07-30

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